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芯片檢測儀激發光應直接射向微陣列上的待測樣品,通過大量一次照明的方式,待測樣品的大部分區域同時受到激發,這種方式在CCD數碼相機中較常見,該方式的缺陷是待測樣品受到的激發光不夠均勻一致。這點是芯片檢測儀設計者須考慮到的重要因素之一。
地址:浙江省杭州市拱墅區祥園路139號智慧立方A座
電話:13958186262 / +86 (571) 56231126
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